FC-012 · 车规 FT 高温（125℃）闩锁：IO 上电时序触发 latch-up演示数据 · 为演示构造
FT 测试 · 闩锁 Latch-up · DEMO-MCU-40A · 2026-05-20 · 来源 人工录入 · reviewed
结构化字段
| 签名 | FT 热测（125℃）BIN3 功能失效占比 1.5–2%，常温 FT 通过；失效 die 复测时 VDD 电流在 IO 上电瞬间跳升至 >150 mA 并保持（典型闩锁电流特征），断电后恢复；失效集中在 CAN 收发接口 IO 组；JESD78 测试在 125℃ 时 I-test 触发电流仅 60 mA（规格 ≥100 mA）；与 FT 测试程序中 IO 偏置先于 VDD 上电的时序相关 |
|---|---|
| 根因 | CAN 接口 IO 的 N 阱保护环（guard ring）在布局时为节省面积被缩短，高温下寄生 PNPN 结构触发电流下降；FT 程序的上电顺序（IO 偏置先于 VDD）恰好构成触发条件，车规 125℃ 热测放大了该问题 |
| 围堵 | FT 程序修改为 VDD 先于 IO 上电并增加上电电流监控；已出货工程样品发布应用说明限制上电时序；125℃ 热测 100% 执行 |
| 纠正措施 | metal/implant ECO 补全 guard ring 并增加阱接触；改版后 JESD78 125℃ I-test ±200 mA 通过，AEC-Q100 latch-up 项重新认证 |
| 预防措施 | 版图 latch-up 检查（guard ring 完整性）纳入 tapeout 必过项；FT 测试程序评审增加「上电时序与 latch-up 窗口」检查；JESD78 高温项列为车规 FT 阶段 KPC |
| 标准 | JESD78 (Latch-up)、AEC-Q100-004、AEC-Q100 Grade 1、ISO 26262 |
| 标签 | latch-up、闩锁、FT 热测、guard ring、上电时序、CAN IO、车规 |
| 来源 NCR | — |
相似案例 规则生成 用模型重跑
GEMINI_API_KEY 未配置：本次按确定性规则生成，未调用任何模型
| 编号 | 分数（仅排序） | 相似在哪里 |
|---|---|---|
| FC-004 | 0.16 | 文本相似 0.06（共有：车规、125、失效、1）；同产品 DEMO-MCU-40A |